フラッシュ法熱物性測定装置

フラッシュ法熱物性測定装置

設備紹介

フラッシュ法熱物性測定装置

管理情報

製品名:
Bruker AXS NETZSCH LFA447 NanoFlash
管理部門:
基盤研究設備部門
分析・計測機器室
管理責任者:
白川晃
レーザー新世代研究センター

装置概要

  • パルス光を試料に照射し、温度上昇を赤外検出器で測定し、その上昇率から熱拡散率を決定。
    熱源、温度計ともに非接触型のため、高精度測定が可能。
  • 比較法による比熱容量、熱伝導率測定。
  • 自動試料交換機能(4試料)により1回の昇温で複数の測定が可能。
  • 異方性試料、薄膜、多層試料、粉体、液体など様々な試料を測定可能。
  • 熱損失を考慮した多層試料の解析、透明試料の解析など解析モデルが充実。
  • 基本性能
    測定温度範囲:室温~300℃
    熱拡散率測定範囲:0.01~1000mm2/s(試料の厚さによる)
    熱伝導率測定範囲:0.1~2000W/(mK)(試料の厚さによる)
    熱拡散率測定精度・再現性:±5%以内(標準試料)

温度上昇曲線。試料はCa2MgSi2O7結晶(厚さ1.56mm、温度80度)。

Ca2MgSi2O7結晶の(or上記/左記結晶の)熱拡散率の温度依存性。相転移による特異な振る舞いが観測されている。

測定できる物質、状態、大きさ等

  • 固体、異方性試料、薄膜、多層試料、粉体、液体
  • 固体試料寸法:0.1~6mm厚、φ6mm~25.4mm角
    (10mm角以外の試料についてはホルダーを作製する必要あり)
  • 付属試料ホルダー
    • 10mm×10mm固体試料ホルダー 4個
    • 面内測定(異方性材料・薄膜)用ホルダー(インプレーン、ラメラー) 各1個
    • 粉体測定用ホルダー 1個
    • 液体測定用ホルダー 1個
  • 比熱容量・熱伝導率測定の場合、試料表面をカーボンコートする必要あり(容易に拭き取れる)。
    透明試料の場合は金蒸着+カーボンコート推奨。